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  • Artigo de periodico

    Assessment of micro-abrasive wear tribological properties of H10 tool-steel under conditions of “constant normal force ⇒ variable pressure” and “constant pressure ⇒ variable normal force” (2021)

    Macedo, Marcelo de Matos; Luna-Domínguez, Jorge Humberto; Verma, Vikas; Schön, Cláudio Geraldo ; Cozza, Ronaldo Câmara

    Source: Wear. Unidade: EP

    Subjects: AÇO FERRAMENTA, DESGASTE ABRASIVO

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      MACEDO, Marcelo de Matos et al. Assessment of micro-abrasive wear tribological properties of H10 tool-steel under conditions of “constant normal force ⇒ variable pressure” and “constant pressure ⇒ variable normal force”. Wear, v. 476, 2021Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.wear.2021.203664. Acesso em: 15 maio 2024.

    • APA

      Macedo, M. de M., Luna-Domínguez, J. H., Verma, V., Schön, C. G., & Cozza, R. C. (2021). Assessment of micro-abrasive wear tribological properties of H10 tool-steel under conditions of “constant normal force ⇒ variable pressure” and “constant pressure ⇒ variable normal force”. Wear, 476. doi:10.1016/j.wear.2021.203664

    • NLM

      Macedo M de M, Luna-Domínguez JH, Verma V, Schön CG, Cozza RC. Assessment of micro-abrasive wear tribological properties of H10 tool-steel under conditions of “constant normal force ⇒ variable pressure” and “constant pressure ⇒ variable normal force” [Internet]. Wear. 2021 ; 476[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.wear.2021.203664

    • Vancouver

      Macedo M de M, Luna-Domínguez JH, Verma V, Schön CG, Cozza RC. Assessment of micro-abrasive wear tribological properties of H10 tool-steel under conditions of “constant normal force ⇒ variable pressure” and “constant pressure ⇒ variable normal force” [Internet]. Wear. 2021 ; 476[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.wear.2021.203664

  • Artigo de periodico

    Influence of abrasive wear modes on the coefficient of friction on thin films (2018)

    Cozza, Ronaldo Câmara ; Wilcken, Jorge Thiago de Sousa Lima; Schön, Cláudio Geraldo

    Source: Tecnologia em Metalurgia, Materiais e Mineração. Unidade: EP

    Subjects: ABRASÃO, FILMES FINOS, FRICÇÃO

    Acesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      COZZA, Ronaldo Câmara e WILCKEN, Jorge Thiago de Sousa Lima e SCHÖN, Cláudio Geraldo. Influence of abrasive wear modes on the coefficient of friction on thin films. Tecnologia em Metalurgia, Materiais e Mineração, v. 15, n. 4, p. 504-509, 2018Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.4322/2176-1523.20181468. Acesso em: 15 maio 2024.

    • APA

      Cozza, R. C., Wilcken, J. T. de S. L., & Schön, C. G. (2018). Influence of abrasive wear modes on the coefficient of friction on thin films. Tecnologia em Metalurgia, Materiais e Mineração, 15( 4), 504-509. doi:10.4322/2176-1523.20181468

    • NLM

      Cozza RC, Wilcken JT de SL, Schön CG. Influence of abrasive wear modes on the coefficient of friction on thin films [Internet]. Tecnologia em Metalurgia, Materiais e Mineração. 2018 ; 15( 4): 504-509.[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.4322/2176-1523.20181468

    • Vancouver

      Cozza RC, Wilcken JT de SL, Schön CG. Influence of abrasive wear modes on the coefficient of friction on thin films [Internet]. Tecnologia em Metalurgia, Materiais e Mineração. 2018 ; 15( 4): 504-509.[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.4322/2176-1523.20181468

  • Trabalho de evento

    Estudo da influência do tipo de partícula abrasiva e da concentração de lama abrasiva sob o comportamento ao desgaste micro--abrasivo da , (2017)

    Castilho, Felipe Westermann Lopes; Schön, Cláudio Geraldo ; Cozza, Ronaldo Câmara

    Source: Anais. São Bernardo do Campo, Centro Universitário FEI, 2017. Conference titles: Simpósio de Iniciação Científica, Didática de Ações Sociais. Unidade: EP

    Subjects: DESGASTE ABRASIVO, TRIBOLOGIA

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    • ABNT

      CASTILHO, Felipe Westermann Lopes e SCHÖN, Cláudio Geraldo e COZZA, Ronaldo Câmara. Estudo da influência do tipo de partícula abrasiva e da concentração de lama abrasiva sob o comportamento ao desgaste micro--abrasivo da ,. 2017, Anais.. São Bernardo do Campo: Centro Universitário FEI, 2017. . Acesso em: 15 maio 2024.

    • APA

      Castilho, F. W. L., Schön, C. G., & Cozza, R. C. (2017). Estudo da influência do tipo de partícula abrasiva e da concentração de lama abrasiva sob o comportamento ao desgaste micro--abrasivo da ,. In Anais. São Bernardo do Campo, Centro Universitário FEI, 2017. São Bernardo do Campo: Centro Universitário FEI.

    • NLM

      Castilho FWL, Schön CG, Cozza RC. Estudo da influência do tipo de partícula abrasiva e da concentração de lama abrasiva sob o comportamento ao desgaste micro--abrasivo da ,. Anais. São Bernardo do Campo, Centro Universitário FEI, 2017. 2017 ;[citado 2024 maio 15 ]

    • Vancouver

      Castilho FWL, Schön CG, Cozza RC. Estudo da influência do tipo de partícula abrasiva e da concentração de lama abrasiva sob o comportamento ao desgaste micro--abrasivo da ,. Anais. São Bernardo do Campo, Centro Universitário FEI, 2017. 2017 ;[citado 2024 maio 15 ]

  • Artigo de periodico

    Analysis of the micro-abrasive wear behavior of an iron aluminide alloy under ambient and high-temperature conditions (2015)

    Cozza, Ronaldo Câmara ; Rodrigues, Lucas Cremonese; Schön, Cláudio Geraldo

    Source: Wear. Unidade: EP

    Subjects: ALTA TEMPERATURA, DESGASTE ABRASIVO

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      COZZA, Ronaldo Câmara e RODRIGUES, Lucas Cremonese e SCHÖN, Cláudio Geraldo. Analysis of the micro-abrasive wear behavior of an iron aluminide alloy under ambient and high-temperature conditions. Wear, v. 330-331, p. 250-260, 2015Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.wear.2015.02.021. Acesso em: 15 maio 2024.

    • APA

      Cozza, R. C., Rodrigues, L. C., & Schön, C. G. (2015). Analysis of the micro-abrasive wear behavior of an iron aluminide alloy under ambient and high-temperature conditions. Wear, 330-331, 250-260. doi:10.1016/j.wear.2015.02.021

    • NLM

      Cozza RC, Rodrigues LC, Schön CG. Analysis of the micro-abrasive wear behavior of an iron aluminide alloy under ambient and high-temperature conditions [Internet]. Wear. 2015 ; 330-331 250-260.[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.wear.2015.02.021

    • Vancouver

      Cozza RC, Rodrigues LC, Schön CG. Analysis of the micro-abrasive wear behavior of an iron aluminide alloy under ambient and high-temperature conditions [Internet]. Wear. 2015 ; 330-331 250-260.[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.wear.2015.02.021

  • Artigo de periodico

    Evidence of Superposition between Grooving Abrasion and Rolling Abrasion (2015)

    Cozza, Ronaldo Câmara ; Schön, Cláudio Geraldo

    Source: Tribology Transactions. Unidade: EP

    Subjects: DESGASTE ABRASIVO, ROLAMENTOS

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      COZZA, Ronaldo Câmara e SCHÖN, Cláudio Geraldo. Evidence of Superposition between Grooving Abrasion and Rolling Abrasion. Tribology Transactions, v. 58, n. 5, p. 875-881, 2015Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1080/10402004.2015.1024907. Acesso em: 15 maio 2024.

    • APA

      Cozza, R. C., & Schön, C. G. (2015). Evidence of Superposition between Grooving Abrasion and Rolling Abrasion. Tribology Transactions, 58( 5), 875-881. doi:10.1080/10402004.2015.1024907

    • NLM

      Cozza RC, Schön CG. Evidence of Superposition between Grooving Abrasion and Rolling Abrasion [Internet]. Tribology Transactions. 2015 ; 58( 5): 875-881.[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1080/10402004.2015.1024907

    • Vancouver

      Cozza RC, Schön CG. Evidence of Superposition between Grooving Abrasion and Rolling Abrasion [Internet]. Tribology Transactions. 2015 ; 58( 5): 875-881.[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1080/10402004.2015.1024907

  • Artigo de periodico

    Open-loop neuro-fuzzy speed estimator applied to vector and scalar induction motor drives (2014)

    Lima, Fábio; Kaiser, Walter ; Silva, Ivan Nunes da; Oliveira Júnior, Azauri Albano de

    Source: Applied Soft Computing. Unidades: EP, EESC

    Subjects: MOTORES DE INDUÇÃO, LÓGICA FUZZY

    Acesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      LIMA, Fábio et al. Open-loop neuro-fuzzy speed estimator applied to vector and scalar induction motor drives. Applied Soft Computing, v. 21, p. 469-480, 2014Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.asoc.2014.03.044. Acesso em: 15 maio 2024.

    • APA

      Lima, F., Kaiser, W., Silva, I. N. da, & Oliveira Júnior, A. A. de. (2014). Open-loop neuro-fuzzy speed estimator applied to vector and scalar induction motor drives. Applied Soft Computing, 21, 469-480. doi:10.1016/j.asoc.2014.03.044

    • NLM

      Lima F, Kaiser W, Silva IN da, Oliveira Júnior AA de. Open-loop neuro-fuzzy speed estimator applied to vector and scalar induction motor drives [Internet]. Applied Soft Computing. 2014 ; 21 469-480.[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.asoc.2014.03.044

    • Vancouver

      Lima F, Kaiser W, Silva IN da, Oliveira Júnior AA de. Open-loop neuro-fuzzy speed estimator applied to vector and scalar induction motor drives [Internet]. Applied Soft Computing. 2014 ; 21 469-480.[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.asoc.2014.03.044

  • Artigo de periodico

    Analog performance of standard and uniaxial strained triple-gate SOI FinFETs under x-ray radiation (2014)

    Bordallo, Caio Cesar Mendes ; Martino, João Antonio ; Teixeira, Fernando Ferrari; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da; Agopian, Paula Ghedini Der ; Simoen, Eddy ; Claeys, Cor

    Source: Semiconductor Science and Technology. Unidade: EP

    Subjects: RAIOS X, MICROELETRÔNICA

    Acesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      BORDALLO, Caio Cesar Mendes et al. Analog performance of standard and uniaxial strained triple-gate SOI FinFETs under x-ray radiation. Semiconductor Science and Technology, v. 29, n. 12, p. 125015, 2014Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1088/0268-1242/29/12/125015. Acesso em: 15 maio 2024.

    • APA

      Bordallo, C. C. M., Martino, J. A., Teixeira, F. F., Silveira, M. A. G. da, Agopian, P. G. D., Simoen, E., & Claeys, C. (2014). Analog performance of standard and uniaxial strained triple-gate SOI FinFETs under x-ray radiation. Semiconductor Science and Technology, 29( 12), 125015. doi:10.1088/0268-1242/29/12/125015

    • NLM

      Bordallo CCM, Martino JA, Teixeira FF, Silveira MAG da, Agopian PGD, Simoen E, Claeys C. Analog performance of standard and uniaxial strained triple-gate SOI FinFETs under x-ray radiation [Internet]. Semiconductor Science and Technology. 2014 ; 29( 12): 125015.[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1088/0268-1242/29/12/125015

    • Vancouver

      Bordallo CCM, Martino JA, Teixeira FF, Silveira MAG da, Agopian PGD, Simoen E, Claeys C. Analog performance of standard and uniaxial strained triple-gate SOI FinFETs under x-ray radiation [Internet]. Semiconductor Science and Technology. 2014 ; 29( 12): 125015.[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1088/0268-1242/29/12/125015

  • Trabalho de evento-anais periodico

    Influência do condensado no sistema EGR (2014)

    Maia, Marcio Henrique Leme; Fleury, Agenor de Toledo ; Trielli, Maurício Assumpção; Souza, Jairo de Lima; Nocciolini, Luiz Roberto; Higa, Roberto

    Source: Blucher Engineering Proceedings. Conference titles: Simpósio Internacional de Engenharia Automotiva- SIMEA 2014. Unidade: EP

    Subjects: MOTORES DIESEL, POLUIÇÃO AMBIENTAL (REDUÇÃO)

    PrivadoAcesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      MAIA, Marcio Henrique Leme et al. Influência do condensado no sistema EGR. Blucher Engineering Proceedings. São Paulo: Edgard Blucher. Disponível em: https://doi.org/10.5151/engpro-simea2014-21. Acesso em: 15 maio 2024. , 2014

    • APA

      Maia, M. H. L., Fleury, A. de T., Trielli, M. A., Souza, J. de L., Nocciolini, L. R., & Higa, R. (2014). Influência do condensado no sistema EGR. Blucher Engineering Proceedings. São Paulo: Edgard Blucher. doi:10.5151/engpro-simea2014-21

    • NLM

      Maia MHL, Fleury A de T, Trielli MA, Souza J de L, Nocciolini LR, Higa R. Influência do condensado no sistema EGR [Internet]. Blucher Engineering Proceedings. 2014 ; 1( 2): 83-95.[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.5151/engpro-simea2014-21

    • Vancouver

      Maia MHL, Fleury A de T, Trielli MA, Souza J de L, Nocciolini LR, Higa R. Influência do condensado no sistema EGR [Internet]. Blucher Engineering Proceedings. 2014 ; 1( 2): 83-95.[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.5151/engpro-simea2014-21

  • Artigo de periodico

    Projeto, construção e validação de um equipamento de ensaio de desgaste micro-abrasivo por esfera rotativa livre para medição do coeficiente de atrito (2014)

    Cozza, Ronaldo Câmara ; Suzuki, Rodrigo de Souza; Schön, Cláudio Geraldo

    Source: Tecnologia em Metalurgia, Materiais e Mineração. Unidade: EP

    Subjects: ABRASÃO, DESGASTE, ATRITO

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      COZZA, Ronaldo Câmara e SUZUKI, Rodrigo de Souza e SCHÖN, Cláudio Geraldo. Projeto, construção e validação de um equipamento de ensaio de desgaste micro-abrasivo por esfera rotativa livre para medição do coeficiente de atrito. Tecnologia em Metalurgia, Materiais e Mineração, v. 11, n. 2, p. 117-124, 2014Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.4322/tmm.2014.018. Acesso em: 15 maio 2024.

    • APA

      Cozza, R. C., Suzuki, R. de S., & Schön, C. G. (2014). Projeto, construção e validação de um equipamento de ensaio de desgaste micro-abrasivo por esfera rotativa livre para medição do coeficiente de atrito. Tecnologia em Metalurgia, Materiais e Mineração, 11( 2), 117-124. doi:10.4322/tmm.2014.018

    • NLM

      Cozza RC, Suzuki R de S, Schön CG. Projeto, construção e validação de um equipamento de ensaio de desgaste micro-abrasivo por esfera rotativa livre para medição do coeficiente de atrito [Internet]. Tecnologia em Metalurgia, Materiais e Mineração. 2014 ; 11( 2): 117-124.[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.4322/tmm.2014.018

    • Vancouver

      Cozza RC, Suzuki R de S, Schön CG. Projeto, construção e validação de um equipamento de ensaio de desgaste micro-abrasivo por esfera rotativa livre para medição do coeficiente de atrito [Internet]. Tecnologia em Metalurgia, Materiais e Mineração. 2014 ; 11( 2): 117-124.[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.4322/tmm.2014.018

  • Artigo de periodico

    Reasoning about shadows in a mobile robot environment (2013)

    Pereira, Valquiria Fenelon; Santos, Paulo Eduardo; Dee, Hannah Mary ; Cozman, Fabio Gagliardi

    Source: Applied Intelligence. Unidade: EP

    Subjects: LÓGICA, ROBÔS

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      PEREIRA, Valquiria Fenelon et al. Reasoning about shadows in a mobile robot environment. Applied Intelligence, v. 38, n. 4, p. 553-565, 2013Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1007/s10489-012-0385-5. Acesso em: 15 maio 2024.

    • APA

      Pereira, V. F., Santos, P. E., Dee, H. M., & Cozman, F. G. (2013). Reasoning about shadows in a mobile robot environment. Applied Intelligence, 38( 4), 553-565. doi:10.1007/s10489-012-0385-5

    • NLM

      Pereira VF, Santos PE, Dee HM, Cozman FG. Reasoning about shadows in a mobile robot environment [Internet]. Applied Intelligence. 2013 ; 38( 4): 553-565.[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s10489-012-0385-5

    • Vancouver

      Pereira VF, Santos PE, Dee HM, Cozman FG. Reasoning about shadows in a mobile robot environment [Internet]. Applied Intelligence. 2013 ; 38( 4): 553-565.[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s10489-012-0385-5

  • Artigo de periodico

    Stress engineering and proton radiation influence on off-state leakage current in triple-gate SOI devices (2013)

    Agopian, Paula Ghedini Der ; Bordallo, Caio Cesar Mendes ; Simoen, Eddy ; Martino, João Antonio ; Claeys, Cor

    Source: Solid-State Electronics Volume 90, December 2013, Pages 155-159. Unidade: EP

    Subjects: SILÍCIO, IRRADIAÇÃO

    Acesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      AGOPIAN, Paula Ghedini Der et al. Stress engineering and proton radiation influence on off-state leakage current in triple-gate SOI devices. Solid-State Electronics Volume 90, December 2013, Pages 155-159, v. 90, p. 155-159, 2013Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.sse.2013.02.037. Acesso em: 15 maio 2024.

    • APA

      Agopian, P. G. D., Bordallo, C. C. M., Simoen, E., Martino, J. A., & Claeys, C. (2013). Stress engineering and proton radiation influence on off-state leakage current in triple-gate SOI devices. Solid-State Electronics Volume 90, December 2013, Pages 155-159, 90, 155-159. doi:10.1016/j.sse.2013.02.037

    • NLM

      Agopian PGD, Bordallo CCM, Simoen E, Martino JA, Claeys C. Stress engineering and proton radiation influence on off-state leakage current in triple-gate SOI devices [Internet]. Solid-State Electronics Volume 90, December 2013, Pages 155-159. 2013 ; 90 155-159.[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.sse.2013.02.037

    • Vancouver

      Agopian PGD, Bordallo CCM, Simoen E, Martino JA, Claeys C. Stress engineering and proton radiation influence on off-state leakage current in triple-gate SOI devices [Internet]. Solid-State Electronics Volume 90, December 2013, Pages 155-159. 2013 ; 90 155-159.[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.sse.2013.02.037

  • Trabalho de evento

    Accounting for short channel effects in the drain current modeling of junctionless nanowire transistors (2012)

    Trevisoli, Renan ; Doria, Rodrigo Trevisoli ; Souza, Michelly de ; Pavanello, Marcelo Antonio

    Source: Microelectronics technology and devices, SBMicro. Conference titles: International Symposium on Microelectronics Technology and Devices. Unidade: EP

    Assunto: MICROELETRÔNICA

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      TREVISOLI, Renan et al. Accounting for short channel effects in the drain current modeling of junctionless nanowire transistors. 2012, Anais.. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, 2012. Disponível em: https://doi.org/10.1149/04901.0207ecst. Acesso em: 15 maio 2024.

    • APA

      Trevisoli, R., Doria, R. T., Souza, M. de, & Pavanello, M. A. (2012). Accounting for short channel effects in the drain current modeling of junctionless nanowire transistors. In Microelectronics technology and devices, SBMicro. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo. doi:10.1149/04901.0207ecst

    • NLM

      Trevisoli R, Doria RT, Souza M de, Pavanello MA. Accounting for short channel effects in the drain current modeling of junctionless nanowire transistors [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0207ecst

    • Vancouver

      Trevisoli R, Doria RT, Souza M de, Pavanello MA. Accounting for short channel effects in the drain current modeling of junctionless nanowire transistors [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0207ecst

  • Trabalho de evento

    Comparative study of biaxial and uniaxial mechanical stress influence on the low frequency noise of fully depleted SOI nMOSFETs operating in triode and saturation regime (2012)

    Souza, Marcio Alves Sodré de; Doria, Rodrigo Trevisoli ; Souza, Michelly de ; Martino, João Antonio ; Pavanello, Marcelo Antonio

    Source: Microelectronics technology and devices, SBMicro. Conference titles: International Symposium on Microelectronics Technology and Devices. Unidade: EP

    Assunto: MICROELETRÔNICA

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      SOUZA, Marcio Alves Sodré de et al. Comparative study of biaxial and uniaxial mechanical stress influence on the low frequency noise of fully depleted SOI nMOSFETs operating in triode and saturation regime. 2012, Anais.. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, 2012. Disponível em: https://doi.org/10.1149/04901.0077ecst. Acesso em: 15 maio 2024.

    • APA

      Souza, M. A. S. de, Doria, R. T., Souza, M. de, Martino, J. A., & Pavanello, M. A. (2012). Comparative study of biaxial and uniaxial mechanical stress influence on the low frequency noise of fully depleted SOI nMOSFETs operating in triode and saturation regime. In Microelectronics technology and devices, SBMicro. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo. doi:10.1149/04901.0077ecst

    • NLM

      Souza MAS de, Doria RT, Souza M de, Martino JA, Pavanello MA. Comparative study of biaxial and uniaxial mechanical stress influence on the low frequency noise of fully depleted SOI nMOSFETs operating in triode and saturation regime [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0077ecst

    • Vancouver

      Souza MAS de, Doria RT, Souza M de, Martino JA, Pavanello MA. Comparative study of biaxial and uniaxial mechanical stress influence on the low frequency noise of fully depleted SOI nMOSFETs operating in triode and saturation regime [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0077ecst

  • Trabalho de evento

    Intrinsic gate capacitances of n-type junctionless nanowire transistors using a three-dimensional device simulation and experimental measurements (2012)

    Mariniello, Genaro ; Doria, Rodrigo Trevisoli ; Trevisoli, Renan ; Souza, Michelly de ; Pavanello, Marcelo Antonio

    Source: Microelectronics technology and devices, SBMicro. Conference titles: International Symposium on Microelectronics Technology and Devices. Unidade: EP

    Assunto: MICROELETRÔNICA

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      MARINIELLO, Genaro et al. Intrinsic gate capacitances of n-type junctionless nanowire transistors using a three-dimensional device simulation and experimental measurements. 2012, Anais.. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, 2012. Disponível em: https://doi.org/10.1149/04901.0231ecst. Acesso em: 15 maio 2024.

    • APA

      Mariniello, G., Doria, R. T., Trevisoli, R., Souza, M. de, & Pavanello, M. A. (2012). Intrinsic gate capacitances of n-type junctionless nanowire transistors using a three-dimensional device simulation and experimental measurements. In Microelectronics technology and devices, SBMicro. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo. doi:10.1149/04901.0231ecst

    • NLM

      Mariniello G, Doria RT, Trevisoli R, Souza M de, Pavanello MA. Intrinsic gate capacitances of n-type junctionless nanowire transistors using a three-dimensional device simulation and experimental measurements [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0231ecst

    • Vancouver

      Mariniello G, Doria RT, Trevisoli R, Souza M de, Pavanello MA. Intrinsic gate capacitances of n-type junctionless nanowire transistors using a three-dimensional device simulation and experimental measurements [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0231ecst

  • Trabalho de evento

    Liquid helium temperature operation of graded-channel SOI nMOSFETs (2012)

    Souza, Michelly de ; Kilchytska, Valeriya ; Flandre, Denis ; Pavanello, Marcelo Antonio

    Source: Microelectronics technology and devices, SBMicro. Conference titles: International Symposium on Microelectronics Technology and Devices. Unidade: EP

    Assunto: MICROELETRÔNICA

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      SOUZA, Michelly de et al. Liquid helium temperature operation of graded-channel SOI nMOSFETs. 2012, Anais.. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, 2012. Disponível em: https://doi.org/10.1149/04901.0135ecst. Acesso em: 15 maio 2024.

    • APA

      Souza, M. de, Kilchytska, V., Flandre, D., & Pavanello, M. A. (2012). Liquid helium temperature operation of graded-channel SOI nMOSFETs. In Microelectronics technology and devices, SBMicro. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo. doi:10.1149/04901.0135ecst

    • NLM

      Souza M de, Kilchytska V, Flandre D, Pavanello MA. Liquid helium temperature operation of graded-channel SOI nMOSFETs [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0135ecst

    • Vancouver

      Souza M de, Kilchytska V, Flandre D, Pavanello MA. Liquid helium temperature operation of graded-channel SOI nMOSFETs [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0135ecst

  • Trabalho de evento

    Application of junctionless nanowire transistor in the self-cascode configuration to improve the analog performance (2012)

    Doria, Rodrigo Trevisoli ; Trevisoli, Renan ; Souza, Michelly de ; Pavanello, Marcelo Antonio

    Source: Microelectronics technology and devices, SBMicro. Conference titles: International Symposium on Microelectronics Technology and Devices. Unidade: EP

    Assunto: MICROELETRÔNICA

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      DORIA, Rodrigo Trevisoli et al. Application of junctionless nanowire transistor in the self-cascode configuration to improve the analog performance. 2012, Anais.. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, 2012. Disponível em: https://doi.org/10.1149/04901.0215ecst. Acesso em: 15 maio 2024.

    • APA

      Doria, R. T., Trevisoli, R., Souza, M. de, & Pavanello, M. A. (2012). Application of junctionless nanowire transistor in the self-cascode configuration to improve the analog performance. In Microelectronics technology and devices, SBMicro. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo. doi:10.1149/04901.0215ecst

    • NLM

      Doria RT, Trevisoli R, Souza M de, Pavanello MA. Application of junctionless nanowire transistor in the self-cascode configuration to improve the analog performance [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0215ecst

    • Vancouver

      Doria RT, Trevisoli R, Souza M de, Pavanello MA. Application of junctionless nanowire transistor in the self-cascode configuration to improve the analog performance [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0215ecst

  • Artigo de periodico-dep/entr

    Sempre no topo. [Depoimento] (2012)

    Lemos, Francisco Eneas da Cunha; Barbeta, Vagner Bernal; Zacarelli, Silvana; Silva, Paulo Sérgio Germano da; Rosa, Renata Lopes; Yoshinari, Jin; Principeza, Pedro Henrique dos Santos; Rosalino, elton Spinelli; Tonidandel, Flavio

    Source: Domínio FEI. Unidades: EP, FAU

    Subjects: UNIVERSIDADE, INFORMÁTICA (ESTUDO E ENSINO)

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      LEMOS, Francisco Eneas da Cunha et al. Sempre no topo. [Depoimento]. Domínio FEI. São Paulo: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo. Disponível em: http://portal.fei.edu.br/revista%20Dominio%20FEI. Acesso em: 15 maio 2024. , 2012

    • APA

      Lemos, F. E. da C., Barbeta, V. B., Zacarelli, S., Silva, P. S. G. da, Rosa, R. L., Yoshinari, J., et al. (2012). Sempre no topo. [Depoimento]. Domínio FEI. São Paulo: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo. Recuperado de http://portal.fei.edu.br/revista%20Dominio%20FEI

    • NLM

      Lemos FE da C, Barbeta VB, Zacarelli S, Silva PSG da, Rosa RL, Yoshinari J, Principeza PH dos S, Rosalino elton S, Tonidandel F. Sempre no topo. [Depoimento] [Internet]. Domínio FEI. 2012 ; 3( ja/mar. 2012): 36-41.[citado 2024 maio 15 ] Available from: http://portal.fei.edu.br/revista%20Dominio%20FEI

    • Vancouver

      Lemos FE da C, Barbeta VB, Zacarelli S, Silva PSG da, Rosa RL, Yoshinari J, Principeza PH dos S, Rosalino elton S, Tonidandel F. Sempre no topo. [Depoimento] [Internet]. Domínio FEI. 2012 ; 3( ja/mar. 2012): 36-41.[citado 2024 maio 15 ] Available from: http://portal.fei.edu.br/revista%20Dominio%20FEI

  • Trabalho de evento

    Influência do resfriamento e da centrifugação na fundição de liga Al-7%Si (2012)

    Alves, João Ricardo Ortega; Fonseca Junior, Taylor Mac Intyer; Martorano, Marcelo de Aquino

    Conference titles: Congresso da ABM Internacional. Unidade: EP

    Subjects: FUNDIÇÃO, CENTRIFUGAÇÃO, LIGAS FUNDIDAS

    DOIHow to cite
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    • ABNT

      ALVES, João Ricardo Ortega e FONSECA JUNIOR, Taylor Mac Intyer e MARTORANO, Marcelo de Aquino. Influência do resfriamento e da centrifugação na fundição de liga Al-7%Si. 2012, Anais.. São Paulo: ABM, 2012. . Acesso em: 15 maio 2024.

    • APA

      Alves, J. R. O., Fonseca Junior, T. M. I., & Martorano, M. de A. (2012). Influência do resfriamento e da centrifugação na fundição de liga Al-7%Si. In . São Paulo: ABM. doi:10.5151/2594-5327-21000

    • NLM

      Alves JRO, Fonseca Junior TMI, Martorano M de A. Influência do resfriamento e da centrifugação na fundição de liga Al-7%Si. 2012 ;[citado 2024 maio 15 ]

    • Vancouver

      Alves JRO, Fonseca Junior TMI, Martorano M de A. Influência do resfriamento e da centrifugação na fundição de liga Al-7%Si. 2012 ;[citado 2024 maio 15 ]

  • Trabalho de evento

    Analysis of the self-heating effect in UTBOX devices (2012)

    Rodrigues, Michele; Cruz, E. O.; Galeti, Milene; Martino, João Antonio

    Source: Microelectronics technology and devices, SBMicro. Conference titles: International Symposium on Microelectronics Technology and Devices. Unidade: EP

    Assunto: MICROELETRÔNICA

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      RODRIGUES, Michele et al. Analysis of the self-heating effect in UTBOX devices. 2012, Anais.. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, 2012. Disponível em: https://doi.org/10.1149/04901.0153ecst. Acesso em: 15 maio 2024.

    • APA

      Rodrigues, M., Cruz, E. O., Galeti, M., & Martino, J. A. (2012). Analysis of the self-heating effect in UTBOX devices. In Microelectronics technology and devices, SBMicro. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo. doi:10.1149/04901.0153ecst

    • NLM

      Rodrigues M, Cruz EO, Galeti M, Martino JA. Analysis of the self-heating effect in UTBOX devices [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0153ecst

    • Vancouver

      Rodrigues M, Cruz EO, Galeti M, Martino JA. Analysis of the self-heating effect in UTBOX devices [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 maio 15 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0153ecst

  • Trabalho de evento

    Fundição centrífuga de liga comercial Al-7%Si¹ (2011)

    Alves, João Ricardo Ortega; Fonseca Junior, Taylor Mac Intyer; Martorano, Marcelo de Aquino

    Source: Anais. São Paulo, ABM, 2011. Conference titles: Congresso Anual da ABM. Unidade: EP

    Subjects: FUNDIÇÃO, MUDANÇA DE FASE, SOLIDIFICAÇÃO

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      ALVES, João Ricardo Ortega e FONSECA JUNIOR, Taylor Mac Intyer e MARTORANO, Marcelo de Aquino. Fundição centrífuga de liga comercial Al-7%Si¹. 2011, Anais.. São Paulo: ABM, 2011. . Acesso em: 15 maio 2024.

    • APA

      Alves, J. R. O., Fonseca Junior, T. M. I., & Martorano, M. de A. (2011). Fundição centrífuga de liga comercial Al-7%Si¹. In Anais. São Paulo, ABM, 2011. São Paulo: ABM.

    • NLM

      Alves JRO, Fonseca Junior TMI, Martorano M de A. Fundição centrífuga de liga comercial Al-7%Si¹. Anais. São Paulo, ABM, 2011. 2011 ;[citado 2024 maio 15 ]

    • Vancouver

      Alves JRO, Fonseca Junior TMI, Martorano M de A. Fundição centrífuga de liga comercial Al-7%Si¹. Anais. São Paulo, ABM, 2011. 2011 ;[citado 2024 maio 15 ]

1 - 20 (25 records)

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